子标准号 |
内容 |
预发布日期 |
简介和概述 |
已发布 | |
iec 62321-2 |
样品拆卸、拆解和机械拆分 |
已发布 |
iec 62321-3-1 |
使用x射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、镉、汞、总铬和总溴进行筛选 |
已发布 |
iec 62321-3-2 |
使用c-ic对聚合物和电子产品中的总溴进行测定 |
已发布 |
iec 62321-4 |
使用cv-aas、cv-afs、icp-oes和icp-ms测定聚合物、金属和电子材料中的汞 |
已发布 |
iec 62321-5 |
使用aas、afs、icp-os和icp-ms测定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬,以及金属中的镉和铅 |
已发布 |
iec 62321-6 |
使用gc-ms、iams和hplc-uv测定聚合物和电子材料中的多溴联苯和多溴联苯醚 |
2014-07 |
iec 62321-7-1 |
通过比色法测定金属无色和有色的防腐镀层中六价铬的存在 |
2015-03 |
iec 62321-7-2 |
通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬 |
2015-03 |
iec 62321-8 |
通过质谱测定高分子材料中的特定邻苯二甲酸盐 |
2015-06 |